sem对薄膜制样样品的要求（sem的试样要求）

大家好！今天让创意岭的小编来大家介绍下关于sem对薄膜制样样品的要求的问题，以下是小编对此问题的归纳整理，让我们一起来看看吧。

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本文目录:

• 1、SEM薄膜样品如何减少基底材料信号干扰

• 2、聚合物想测SEM，如何制作样品？

• 3、用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品需要做哪些处理

• 4、求助制备薄膜的SEM截面的问题

一、SEM薄膜样品如何减少基底材料信号干扰

SEM做测试的时候采用比较低的场发射电压或者比较低的电子加速电压，比如用2kV试试看。

或者喷金的时候考虑适当的将金层加厚

二、聚合物想测SEM，如何制作样品？

既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。

三、用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品需要做哪些处理

用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品处理如下：

1、样品要尽可能干燥，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；若样品中含有水份，水分挥发会造成仓内真空度急剧下降，导致图像漂移，有白色条纹，甚至会影响灯丝寿命。

2、热稳定性好，热稳定性差的样品往往在电子束的轰击下分解，释放气体和其他物质，污染电镜。

3、导电性好，导电性差的样品会发生荷电效应，造成图像畸变，亮点亮线，像散等。

4、不含强磁性，强磁性的样品观察一般会出现严重的像散，无法消去，磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上，损害电镜。（当然现在很多实验室都可以做磁性样品的扫描电镜，比如铄思百检测可以做磁性样品的SEM）。

5、试样(表面)导电的固体，试样可以是块状或粉未状。不导电的试样，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜。

对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需要进行什么制备，用导电胶把试样粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。

对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。

6、试样在高真空中能保持稳定。

7、表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构状态。

有些试样的表面、断口需要进行适当的侵蚀，才能暴露某些结构细节，则在侵蚀后应将表面或断口清洗干净，然后烘干。

8、试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸，不能过大，样品座尺寸各仪器不均相同，一般小的样品座为的0~35mm，大的样品座为30~50mm，以分别用来放置不同大小的试样，样品的高度也有一定的限制，一般小于10mm左右。

四、求助制备薄膜的SEM截面的问题

对了，还有一种是针对液体样品的，快速冷冻法，简单说就是液体样品放在液氮中快速冷冻，通过特殊的装置，转移到过渡舱中，再喷金，再转入观察仓。以上三种制备方法基本就全了。这个还需要你多多练习，基本方法就是这些。

以上就是关于sem对薄膜制样样品的要求相关问题的回答。希望能帮到你，如有更多相关问题，您也可以联系我们的客服进行咨询，客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。

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